hast高溫高壓蒸煮儀適用范圍：

　　hast高溫高壓蒸煮儀廣泛應(yīng)用于電子連接器,線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵,釹鐵硼,光分路器等產(chǎn)品之壽命試驗(yàn)，密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性，hast加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力;加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

　　has高溫高壓蒸煮儀規(guī)格：

　　●型號(hào):HAST-25HAST-35HAST-45HAST-55

　　●內(nèi)箱尺寸（cm）:Φ25×D35Φ30×D45Φ40×D55Φ50×D60

　　●外箱尺寸（cm）:W56×H45×D85W56×H45×D85W56×H45×D85W66×H85×D125

　　●控制器:HAST-6890型控制器，中英文表示，具USB接口，R-232C接口.

　　●解析度溫度：0.1濕度：0.1壓力：0.1

　　●控制穩(wěn)定度溫度：±0.5℃，濕度：±0.5℃

　　●內(nèi)箱材質(zhì):SUS316#不銹鋼

　　●溫度范圍:110℃——132℃110℃——132℃110℃——132℃110℃——132℃

　　●濕度范圍:75%～RH飽和蒸氣75%～RH飽和蒸氣75%～RH飽和蒸氣75%～RH飽和

　　高溫高壓蒸煮儀特性:

　　●試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束,使用簡(jiǎn)便。

　　●三重壓力安全保護(hù)裝置，采用控制器內(nèi)部?jī)啥问匠瑴乇Ｗo(hù)+機(jī)械式壓力安全保護(hù)裝置。

　　●手動(dòng)安全保護(hù)排壓伐，警急安全裝置兩段式自動(dòng)排壓伐。

　　●雙重過(guò)熱保護(hù)裝置：當(dāng)鍋內(nèi)溫度過(guò)高時(shí)，機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源。

　　●LED數(shù)字型溫度控制器可作精確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示,PID控制,誤差±0.1℃。

　　●LED數(shù)字型定時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開(kāi)始計(jì)時(shí)以確保試驗(yàn)*。

　　●開(kāi)始運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動(dòng)排出未飽和蒸氣以達(dá)到蒸氣質(zhì)量。

　　●精準(zhǔn)的指針式壓力指示，誤差±0.1。

　　●鍋內(nèi)安全裝置：鍋門(mén)若未關(guān)緊則機(jī)器無(wú)法啟動(dòng)。

　　●安全閥：當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過(guò)大工作值自動(dòng)排氣泄壓。

　　●門(mén)蓋保護(hù)：特制材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷。

　　●一體成型硅膠門(mén)墊圈，氣密度良好，且使用壽命長(zhǎng)。

　　高溫高壓蒸煮儀技術(shù)優(yōu)勢(shì):

　　●采用全自動(dòng)補(bǔ)充水位之功能,試驗(yàn)*中斷.

　　●試驗(yàn)過(guò)程的溫度、濕度、壓力，是真正讀取相關(guān)感測(cè)器的讀值來(lái)顯示的，而不是通過(guò)溫濕度的飽和蒸汽壓表計(jì)算出來(lái)的，能夠真正掌握實(shí)際的試驗(yàn)過(guò)程。

　　●干燥設(shè)計(jì)，試驗(yàn)終止采用電熱干燥設(shè)計(jì)確保測(cè)試區(qū)（待測(cè)品）的干燥，確保穩(wěn)定性。

　　●精準(zhǔn)的壓力/溫度對(duì)照顯示，*符合溫濕度壓力對(duì)照表要求。

　　hast加速老化壽命試驗(yàn)壓力與溫度對(duì)照表：

　　高溫高壓蒸煮儀壓力溫度壓力溫度

　　0.5㎏/㎡110℃1.5㎏/㎡127℃

　　1.0㎏/㎡121℃2.0㎏/㎡132℃

　　●速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度）與工作應(yīng)力（施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等），加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

　　●用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

　　●隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。

　　●為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。

　　●壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC（電工委員會(huì)）所標(biāo)準(zhǔn)化。

　　●注意事項(xiàng)：USPCT現(xiàn)在稱為HAST（高度加速應(yīng)力試驗(yàn)）。

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